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        反射式膜厚測量?jì)x

        更新時(shí)間:2023-11-01

        簡(jiǎn)要描述:

        A3-SR-100S系列反射式膜厚儀可用于測量半導體鍍膜,手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度,PET柔性涂布的膠厚等厚度,LED鍍膜厚度,建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場(chǎng)合。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來(lái)一鍵式測量車(chē)燈罩表面硬化膜(包括過(guò)渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量?jì)蕊椉?外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um

        訪(fǎng)問(wèn)次數:8062廠(chǎng)商性質(zhì):代理商

        反射式膜厚測量?jì)x

        A3-SR 系列反射式膜厚測量?jì)x可用于測量半導體鍍膜,手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度,PET柔性涂布的膠厚等厚度,LED鍍膜厚度,建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場(chǎng)合。A3-SR系列可用于測量2納米到3000微米的膜厚,測量精度達到0.1納米。 在折射率未知的情況下,A3-SR 還可用于同時(shí)對折射率和膜厚進(jìn)行測量。配手持式探頭,A3-SR 可以用來(lái)一鍵式測量車(chē)燈罩表面硬化膜(包括過(guò)渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量?jì)蕊椉?/span>,外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um

        此外,A3-SR 還可用于測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以?xún)?。A3-SR進(jìn)行測量簡(jiǎn)單可靠,實(shí)際測量采樣時(shí)間低于1秒。配合我們的Apris SpectraSys 軟件進(jìn)行手動(dòng)測量,每次測量時(shí)間低于5秒。Apris SpectraSys支持50層膜以?xún)鹊哪P筒⒖蓪Χ鄬幽ず駞颠M(jìn)行測量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數據庫,同時(shí)支持函數型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(Maxwell Garnett, Bruggeman)EMA 等折射率模型。

        同時(shí),客戶(hù)還可以通過(guò)軟件自帶數據庫對材料,菜單進(jìn)行管理并回溯檢查測量結果。目標應用:半導體鍍膜,光刻膠玻璃減反膜測量藍寶石鍍膜,光刻膠ITO 玻璃太陽(yáng)能鍍膜玻璃各種襯底上的各種膜厚,顏色測量卷對卷柔性涂布光學(xué)膜其他需要測量膜厚的場(chǎng)合

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